
TESA MICROBEVEL 1電子傾斜儀 這些電子傾斜儀用于精密檢測(cè)小傾斜度,如平板的平面度測(cè)量以及機(jī)械上的幾何特征測(cè)量。 尤為適合在惡劣環(huán)境下使用。適用于小角度測(cè)量、平面度測(cè)量、垂直度測(cè)量,機(jī)床幾何誤差測(cè)量。
市場(chǎng)價(jià):
優(yōu)惠價(jià):0.00
聯(lián)系人:朱盛
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TESA MICROBEVEL 1電子傾斜儀 這些電子傾斜儀用于精密檢測(cè)小傾斜度,如平板的平面度測(cè)量以及機(jī)械上的幾何特征測(cè)量。 尤為適合在惡劣環(huán)境下使用。適用于小角度測(cè)量、平面度測(cè)量、垂直度測(cè)量,機(jī)床幾何誤差測(cè)量。適用于惡劣條件下的操作,并由鋁制外殼保護(hù)。 由單個(gè)1.5 A A A的標(biāo)準(zhǔn)電池供電,至少可運(yùn)行100小時(shí)。
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主要特性:
? 適合微小傾斜度,如平板的平面度測(cè)量以及機(jī)械幾何特征測(cè)量。 |
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技術(shù)參數(shù):
靈敏度 1μm/m
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| 訂貨代號(hào) | 產(chǎn)品說明 | 基座長度mm | 寬度mm | 數(shù)字間隔mm/m | 重量kg |
| 5330003 | 水平模式 | 110 | 45 | 0.01或0.001 | 1.8 |
| 5330004 | 水平模 | 150 | 45 | 0.01或0.001 | 2.1 |
| 5330005 | 直角模式 | 150 | 45 | 0.01或0.001 | 3.1 |
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