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FISCHERSCOPE X-RAY XUL XYm?菲希爾熒光鍍層分析儀

ISCHERSCOPE®-X-RAY XUL是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀,它結(jié)構(gòu)緊湊,小巧耐用。它們十分適用于無損測量鍍層厚度和成分分析。

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FISCHERSCOPE X-RAY XUL XYm菲希爾熒光鍍層分析儀簡介

一一一耐用且價(jià)格便宜的X射線熒光測量儀,用于無損涂層厚度測量和材料分析。

FISCHERSCOPE X-RAY XUL XYm菲希爾熒光鍍層分析儀

FISCHERSCOPE®-X-RAY XUL是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀,它結(jié)構(gòu)緊湊,小巧耐用。它們十分適用于無損測量鍍層厚度和成分分析。比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率,這樣就可以進(jìn)行高精度測量。由于采用了Fischer基本參數(shù)法,無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品,都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行準(zhǔn)確分析和測量??蓽y量的元素范圍從氯(17)到鈾(92)。XUL型X射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性,這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。本款儀器特別適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

一款適合電鍍廠測量鍍層厚度的便宜耐用的儀器。它配備了一個(gè)固定的準(zhǔn)直器和濾片,射線管出射點(diǎn)稍大,非常適合測量點(diǎn)在1mm以上的應(yīng)用。低能射線元件激發(fā)效率較低;但是對于標(biāo)準(zhǔn)的測量典型電鍍層厚度的應(yīng)用,如Cr、Ni、Cu,沒有任何問題。

測量PCB板上:Au/Ni/Cu/PCB

黃金珠寶檢測

典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:

       在小部件如螺釘、螺栓和螺帽上的測量
       在連接器和電氣元件上的測量
       電鍍液的溶液成分分析

連接器:Au/Ni/CuSn6

防腐保護(hù): Zn/Fe

汽車: Cr/Ni/Cu/ABS

菲希爾熒光鍍層分析儀x-ray設(shè)計(jì)理念:

FISCHERSCOPE X-RAY XUL設(shè)計(jì)為界面友好、結(jié)構(gòu)緊湊的臺(tái)式測量儀器系列。根據(jù)使用用途,有以下兩種不同版本型號,分別對應(yīng)不同的樣品平臺(tái):
        XUL: 固定平面平臺(tái)
        XUL XYm: 手動(dòng)X/Y平臺(tái)
一高分辨的彩色攝像頭配以強(qiáng)大的放大功能,可以定位測量位置。
一盡管儀器本身結(jié)構(gòu)緊湊,但是由于XUL光譜儀配備了寬敞的測量室,從而可以測量更大體積的樣品。
一外罩底部留下了空隙,可方便地測量超出測量室大小的大尺寸扁平樣品,如大面積的印制線路板等。
一通過強(qiáng)大而界面友好的WinFTM®軟件,可以在電腦上便捷地完成整個(gè)測量過程,包括測量結(jié)果的數(shù)據(jù)分析和所有相關(guān)信息的顯示等。
一XUL型光譜儀是安全而保護(hù)全面的測量儀器,型式許可符合德國”Deutsche R?ntgenverordnung-R?V”法令要求
   


 樣品臺(tái)

XUL

XUL XYm

 設(shè)計(jì)

固定樣品平臺(tái)

手動(dòng)XY平臺(tái)

 X/Y方向*大可移動(dòng)范圍

-

50 x 50 mm

 樣品放置可用區(qū)域

250 x 280mm

 樣品*大重量

2kg

 樣品*高高度

240mm

更多詳細(xì)信息,請參考FISCHERSCOPE® X-RAY XUL參數(shù)或聯(lián)系我們。



參數(shù)介紹:

樣品臺(tái)

XUL

XUL XYm

設(shè)計(jì)

固定樣品平臺(tái)

手動(dòng)XY平臺(tái)

X/Y方向*大可移動(dòng)范圍

-

50 x 50 mm

樣品放置可用區(qū)域

250 x 280mm

樣品*大重量

2kg

樣品*高高度

240mm

更多詳細(xì)信息,請參考FISCHERSCOPE® X-RAY XUL參數(shù)或。

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